Sissejuhatus
•
Kiirguse vastastikmõju ainega.
•
Vaakumtehnika alused.
Footonite vastastikmõjul ainega põhinevad uurimismeetodid
• Röntgenkiirguse neeldumine ja röntgenfluorestsents.
• Fotoelektronspektroskoopia.
• Röntgenkiirguse difraktsioon.
• Optiline mikroskoopia.
• Optiline spektroskoopia.
• Magnetresonantsmeetodid: Elektronide paramagnetiline resonants ja tuumagnetresonants.
Elektronide vastastikmõjul ainega põhinevad uurimismeetodid
• Auger spektroskoopia.
• Elektronide energiakadude spektroskoopia
• Elektronide difraktsioon.
• Skaneeriv elektronmikroskoopia.
• Röntgenmikroanalüüs.
• Läbivalgustav elektronmikroskoopia.
Aatomite ja ioonide vastastikmõjul ainega põhinevad uurimismeetodid
• Ioonide hajumisel põhinevad uurimismeetidid.
• Teravikmikroskoopia: Tunnelmikroskoopia ja aatomjõumikroskoopia.
Varia
• Sünktrotronkiirgus: omadused, aparatuur, kasutusalad.
• Arvutustehnika rakendamine materjaliuuringutes.
Kirjandus
P.E.J. Flewitt, R. K. Wild, "Physical methods for materials characterisation", Second Edition, Institute of Physics Publishing, Bristol and Philadelpia, 2003 (ISBN 0 7503 0808 7).
Täiendav kirjandus:
• G. Margaritondo, Elements of Synchrotron Light, Oxford University Press, 2002 (ISBN 0 19 850930 8).
• J. F. Watts, J. Wolstenholme, An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, John Wiley & Sons, 2003
(ISBN 0-470 84712 3, 0-470 84712 1).
• M. A. Elango, Elementary Inelastic Radiation-Induced Processes; American Insitute of Physics, New York 1990
(ISBN 0-88318-799-X).